[发明专利]量子成像方法以及量子成像系统

摘要

本申请提供了一种量子成像方法及量子成像系统。量子成像方法包括：确定入射光照射至目标物体后形成的信号光相对于时间的第n阶导数S(n)；获取与信号光对应的参考光相对于时间的第n阶导数I(n)(x,y)；以及根据第n阶导数S(n)和第n阶导数I(n)(x,y)构建目标物体的量子成像模型，以获得目标物体的图像，其中，n为任意的正整数，(x,y)为参考光的空间坐标。根据该量子成像方法，可一次测量获取信号光和参考光的多阶导数信号，减少测量次数，进一步地，运用上述多阶导数信号，可快速高效地实现量子成像。此外，本申请提供的量子成像方法从整体上降低了需要存储的数据量，减轻了数据存储的负担，降低了量子成像系统中硬件实现的难度。