[发明专利]一种双包层光纤的包层数值孔径测量装置有效

专利信息
申请号: 202110231460.5 申请日: 2021-03-02
公开(公告)号: CN112903249B 公开(公告)日: 2023-02-07
发明(设计)人: 王静;请求不公布姓名;王颖;刘锐;莫琦;王道龙;李云丽;包箭华;倪志龙;董彪;吴杰 申请(专利权)人: 武汉睿芯特种光纤有限责任公司
主分类号: G01M11/00 分类号: G01M11/00
代理公司: 北京路浩知识产权代理有限公司 11002 代理人: 王宇杨
地址: 430000 湖北省武*** 国省代码: 湖北;42
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摘要: 发明提供一种双包层光纤的包层数值孔径测量装置,包括:光源、双包层待测光纤和由多个相同光纤段组成的光输入系统;将光输入系统的首端光纤段作为输入端光纤段,由光输入系统的其它光纤段构成中间光纤段组;光源的尾纤与输入端光纤段的小径端连接,输入端光纤段的大径端与中间光纤段组中首端光纤段的大径端连接,光输入系统中尾端光纤段的小径端与双包层待测光纤连接;中间光纤段组中包含多个按照熔融拉锥方式依次级联的光纤段;熔融拉锥方式是指任一光纤段的小径端与相邻光纤段的大径端连接;光纤段的小径端尺寸不小于双包层待测光纤的包层尺寸。本发明的装置可降低光纤损耗,减小测试误差,提高系统的稳定性。
搜索关键词: 一种 包层 光纤 数值孔径 测量 装置
【主权项】:
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