[发明专利]一种批量测试USB电子盘的方法及系统有效

专利信息
申请号: 202110059331.2 申请日: 2021-01-18
公开(公告)号: CN112634979B 公开(公告)日: 2021-07-23
发明(设计)人: 李修录;尹善腾;朱小聪;吴健全 申请(专利权)人: 深圳市安信达存储技术有限公司
主分类号: G11C29/56 分类号: G11C29/56
代理公司: 广州博士科创知识产权代理有限公司 44663 代理人: 宋佳
地址: 518000 广东省深圳市宝安区新桥*** 国省代码: 广东;44
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摘要: 本公开能够实现对多个待测USB电子盘的批量测试,能够通过目标测试程序对多个待测USB电子盘进行读写测试,得到每个待测USB电子盘对应的读写测试结果,然后对每个读写测试结果进行识别,在该所述读写测试结果表征其对应的第一USB电子盘通过测试时,输出所述第一USB电子盘对应的第一可视化结果,在该所述读写测试结果表征其对应的第二USB电子盘未通过测试时,输出所述第二USB电子盘对应的第二可视化结果。如此设计,能够实现对待测USB电子盘的批量自动化测试,进而提高针对USB电子盘的批量测试效率,减少测试耗时,进而减少测试所耗费的人力成本和时间成本。
搜索关键词: 一种 批量 测试 usb 电子盘 方法 系统
【主权项】:
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