[发明专利]用于带电粒子晶体学的衍射仪在审

专利信息
申请号: 202080037920.4 申请日: 2020-05-19
公开(公告)号: CN113906536A 公开(公告)日: 2022-01-07
发明(设计)人: 巩特尔·施泰因费尔德;古斯塔沃·圣蒂索奎诺尼斯;埃里克·霍弗斯特雷德特 申请(专利权)人: 埃尔迪科科学股份有限公司
主分类号: H01J37/20 分类号: H01J37/20;H01J37/28
代理公司: 北京品源专利代理有限公司 11332 代理人: 谭营营;胡彬
地址: 瑞士*** 国省代码: 暂无信息
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摘要: 发明涉及一种用于结晶样本(31)的带电粒子结晶学,特别是用于结晶样本(31)的电子结晶学的衍射仪(1)。衍射仪(1)包括:带电粒子源(10),用于沿着带电粒子束轴(11)生成带电粒子束;带电粒子光学系统(20),用于操纵带电粒子束,诸如以便利用带电粒子束照射样本;以及带电粒子检测系统(50),至少用于基于透射通过样本的带电粒子束来收集样本(31)的衍射图案。衍射仪(1)还包括用于固持样本的样本固持器(30)和可操作地耦接到样本固持器(30)用于相对于束轴(11)定位样本(31)的操纵器(40)。操纵器(40)包括用于围绕倾斜轴(44)相对于入射带电粒子束倾斜样本固持器(30)的旋转台(41),以及用于至少在垂直于倾斜轴(44)的平面内移动样本固持器(30)的多轴平移台(42)。多轴平移台(42)可操作地耦接在样本固持器(30)和旋转台(41)之间,使得多轴平移台(42)处于旋转台(41)的旋转系统中,并且样本固持器(30)处于多轴平移台(42)的移动系统中。
搜索关键词: 用于 带电 粒子 晶体学 衍射
【主权项】:
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