[实用新型]一种硅晶圆刻蚀装置有效

专利信息
申请号: 202021612897.0 申请日: 2020-08-06
公开(公告)号: CN212434588U 公开(公告)日: 2021-01-29
发明(设计)人: 朱博超;章志成;邹严宇 申请(专利权)人: 浙江森田新材料有限公司
主分类号: H01L21/67 分类号: H01L21/67
代理公司: 杭州新泽知识产权代理事务所(特殊普通合伙) 33311 代理人: 曾建芳
地址: 321200 浙江*** 国省代码: 浙江;33
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摘要: 实用新型涉及一种硅晶圆刻蚀装置。采用的技术方案是:包括刻蚀装置外壳、控制面板、硅晶圆承载机构、滴胶机构、均布机构、氮气平布机构、检测箱和恒温恒湿机构,所述硅晶圆承载机构上部设置有所述滴胶机构,所述滴胶机构一侧设置有所述均布机构,所述均布机构后侧设置有所述氮气平布机构。本实用新型的有益效果:通过刻蚀装置外壳实现硅晶圆刻蚀装置加工环境封闭,通过硅晶圆承载机构实现四片晶圆同时刻蚀加工,便于晶圆取放,通过滴胶机构保障加工过程中光刻胶滴胶均匀,同时保持光刻胶质量和品质,通过均布机构和氮气平布机构实现对光刻胶均匀涂布,保障涂布平整,通过恒温恒湿机构完成装置内部空气循环,保障工作环境稳定,保障硅晶圆刻蚀质量。
搜索关键词: 一种 硅晶圆 刻蚀 装置
【主权项】:
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