[实用新型]一种硅晶圆刻蚀装置有效
申请号: | 202021612897.0 | 申请日: | 2020-08-06 |
公开(公告)号: | CN212434588U | 公开(公告)日: | 2021-01-29 |
发明(设计)人: | 朱博超;章志成;邹严宇 | 申请(专利权)人: | 浙江森田新材料有限公司 |
主分类号: | H01L21/67 | 分类号: | H01L21/67 |
代理公司: | 杭州新泽知识产权代理事务所(特殊普通合伙) 33311 | 代理人: | 曾建芳 |
地址: | 321200 浙江*** | 国省代码: | 浙江;33 |
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摘要: | 本实用新型涉及一种硅晶圆刻蚀装置。采用的技术方案是:包括刻蚀装置外壳、控制面板、硅晶圆承载机构、滴胶机构、均布机构、氮气平布机构、检测箱和恒温恒湿机构,所述硅晶圆承载机构上部设置有所述滴胶机构,所述滴胶机构一侧设置有所述均布机构,所述均布机构后侧设置有所述氮气平布机构。本实用新型的有益效果:通过刻蚀装置外壳实现硅晶圆刻蚀装置加工环境封闭,通过硅晶圆承载机构实现四片晶圆同时刻蚀加工,便于晶圆取放,通过滴胶机构保障加工过程中光刻胶滴胶均匀,同时保持光刻胶质量和品质,通过均布机构和氮气平布机构实现对光刻胶均匀涂布,保障涂布平整,通过恒温恒湿机构完成装置内部空气循环,保障工作环境稳定,保障硅晶圆刻蚀质量。 | ||
搜索关键词: | 一种 硅晶圆 刻蚀 装置 | ||
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造