[发明专利]一种芯片快速检测设备及快速检测方法有效
| 申请号： | 202011640910.8 | 申请日： | 2020-12-31 |
| 公开（公告）号： | CN112833946B | 公开（公告）日： | 2022-07-15 |
| 发明（设计）人： | 王维佳;王宝利 | 申请（专利权）人： | 深圳市展芯科技有限公司 |
| 主分类号： | G01D21/02 | 分类号： | G01D21/02 |
| 代理公司： | 合肥利交桥专利代理有限公司 34259 | 代理人： | 刘冉 |
| 地址： | 518000 广东省深圳市*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本发明涉及芯片检测设备技术领域，且公开了一种芯片快速检测设备及快速检测方法，包括箱体和开口，所述箱体内部顶部固定装有液压缸，所述液压缸输出端通过伸缩杆固定连接下压板，所述下压板底面固定设有支撑杆，所述支撑杆向下延伸的一端装设有检测装置，所述箱体底部设有第一次品收集箱、第二次品收集箱、成品收集箱和第三次品收集箱，所述箱体内设有分检传输装置、第二分检传输装置、检测厚度块和第二检测厚度块，所述箱体内部装设有清扫装置。本发明通过检测装置可均匀下压检测芯片的抗压强度，不会造成受力不匀而意外损坏，另外通过还可批量的检测芯片的厚度，提高制作芯片的效率和减轻工作人员的工作量。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 芯片 快速 检测 设备 方法 | ||
【主权项】：
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