[发明专利]用于校准激光扫平仪的系统在审
申请号: | 202011624800.2 | 申请日: | 2020-12-31 |
公开(公告)号: | CN112611397A | 公开(公告)日: | 2021-04-06 |
发明(设计)人: | 王伟臣;石昕;邢星 | 申请(专利权)人: | 上海诺司纬光电仪器有限公司 |
主分类号: | G01C25/00 | 分类号: | G01C25/00;G01C15/00 |
代理公司: | 北京永新同创知识产权代理有限公司 11376 | 代理人: | 杨胜军 |
地址: | 201707 上海*** | 国省代码: | 上海;31 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | 本公开内容涉及一种用于校准激光扫平仪的系统,所述系统包括:旋转装置,所述旋转装置被构造用于旋转所述激光扫平仪;通信模块,所述通信模块被构造用于分别建立所述旋转装置与探测所述激光扫平仪的激光的探测装置以及所述激光扫平仪之间的通信连接;以及控制装置,所述控制装置与所述通信模块通信连接并且被构造为基于探测装置探测到的所述激光扫平仪在旋转第一角度前后分别在所述探测装置上的位置变化信息确定是否需要对所述激光扫平仪进行校准。 | ||
搜索关键词: | 用于 校准 激光 扫平 系统 | ||
【主权项】:
暂无信息
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于上海诺司纬光电仪器有限公司,未经上海诺司纬光电仪器有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/202011624800.2/,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇:一种半枫荷组培培养基
- 下一篇:一种图片标注方法及设备