[发明专利]一种电源芯片的测试系统及方法在审
| 申请号： | 202011609302.0 | 申请日： | 2020-12-30 |
| 公开（公告）号： | CN112630625A | 公开（公告）日： | 2021-04-09 |
| 发明（设计）人： | 李求洋;张蓬鹤;徐英辉;熊素琴;陈思禹;袁翔宇;赵越;张保亮;李杨 | 申请（专利权）人： | 中国电力科学研究院有限公司;国网江苏省电力有限公司电力科学研究院;国家电网有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/28 | 分类号： | G01R31/28 |
| 代理公司： | 北京工信联合知识产权代理有限公司 11266 | 代理人： | 夏德政 |
| 地址： | 100192 北*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种电源芯片的测试系统及方法，所述系统包括：被测芯片负载板，分别与被测电源芯片和被测芯片接口相连接，用于承载所述被测电源芯片，实现所述被测电源芯片和被测芯片接口之间的连接；控制板，分别与被测芯片接口和至少一个资源接口相连接，用于实现被测芯片和测试资源的电连接；测试资源，分别与所述资源接口和上位机相连接，用于根据上位机发送的控制指令输出相应的资源信号至被测电源芯片；上位机，用于通过调用测试资源的驱动程序发送控制指令至测试资源；用于获取被测芯片输出的响应信息，并基于所述响应信息确定被测电源芯片的测试结果。本发明能够实现不同的测试场景下任意切换，提高了设备的可复用性，提高了生产效率。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 电源 芯片 测试 系统 方法 | ||
【主权项】：
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