[发明专利]一种判别铌酸锂晶体X轴正负向的方法在审
| 申请号： | 202011602775.8 | 申请日： | 2020-12-30 |
| 公开（公告）号： | CN112611735A | 公开（公告）日： | 2021-04-06 |
| 发明（设计）人： | 商继芳;郝好山;杨金凤;陈铃;苏丽霞 | 申请（专利权）人： | 河南工程学院 |
| 主分类号： | G01N21/45 | 分类号： | G01N21/45 |
| 代理公司： | 郑州优盾知识产权代理有限公司 41125 | 代理人： | 王红培 |
| 地址： | 451191 河南*** | 国省代码： | 河南;41 |
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| 摘要： | 本发明提供了一种判别铌酸锂晶体X轴正负向的方法，步骤如下：（1）首先利用压电法标定出待测铌酸锂晶体Z轴的正负，然后对Z面进行粗略抛光；（2）将待测铌酸锂晶体置于锥光干涉光路中，待测铌酸锂晶体的X轴和Y轴分别沿水平和竖直方向，使激光沿晶体Z轴正向或负向入射；（3）在晶体X轴方向施加直流电压，沿着光的传播方向观察光屏上的锥光干涉图样，根据椭圆干涉环长轴所在象限判断X轴正负向。本发明基于晶体的电光效应，利用加电后的锥光干涉图样对铌酸锂晶体X轴正负向进行检测，测试过程不会损伤晶体，可以在器件制备完成后进一步应用前再进行检测，无需在加工过程中做标记，有利于提高加工效率。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 判别 铌酸锂 晶体 正负 方法 | ||
【主权项】：
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