[发明专利]一种多频点微波器件自动化测试方法及测试系统有效
| 申请号： | 202011598615.0 | 申请日： | 2020-12-29 |
| 公开（公告）号： | CN112731110B | 公开（公告）日： | 2023-08-18 |
| 发明（设计）人： | 杨博;李宗昆;李志超 | 申请（专利权）人： | 北京振兴计量测试研究所 |
| 主分类号： | G01R31/28 | 分类号： | G01R31/28 |
| 代理公司： | 北京天达知识产权代理事务所有限公司 11386 | 代理人： | 龚颐雯 |
| 地址： | 100074 北京*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本发明涉及一种多频点微波器件自动化测试方法及测试系统，属于无线电计量技术领域，解决了微波器件测试效率低下、无法满足自动化测试需求的问题。方法步骤为：配置待测微波器件在每一待测频点下的电平控制指令和测试子项；测试子项包括配置指令、数据获取指令和技术指标；在每一待测频点下执行测试过程，若在每一待测频点下的测试均通过，则微波器件测试通过；每一待测频点下执行的测试过程包括：微波器件基于电平控制指令及参考微波信号生成变频微波信号；频谱分析仪基于测试子项中的配置指令及数据获取指令，从变频微波信号中获取相应测试子项下的测试数据；判断测试数据是否满足相应技术指标，若均满足，则在当前待测频点下的测试通过。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 多频点 微波 器件 自动化 测试 方法 系统 | ||
【主权项】：
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