[发明专利]一种半导体激光器耐回返光能力的光路测试系统及方法有效
| 申请号： | 202011592314.7 | 申请日： | 2020-12-29 |
| 公开（公告）号： | CN112798230B | 公开（公告）日： | 2023-05-05 |
| 发明（设计）人： | 周少丰;黄良杰;刘鹏;欧阳春宝;尹晓峰 | 申请（专利权）人： | 深圳市星汉激光科技股份有限公司 |
| 主分类号： | G01M11/02 | 分类号： | G01M11/02;H01S5/00 |
| 代理公司： | 武汉瑞创星知识产权代理事务所(普通合伙) 42274 | 代理人： | 曹雄 |
| 地址： | 518000 广东省深圳市宝安区福海*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本发明提供了一种半导体激光器耐回返光能力的光路测试系统及方法，涉及半导体激光技术领域；该系统包括：待测试的半导体激光器、第一光纤耦合器、第二光纤耦合器和光功率计；所述第一光纤耦合器和所述第二光纤耦合器均为2×2的光纤耦合器；所述激光器和所述光功率计分别连接至所述第一光纤耦合器一端的两个端口；所述第一光纤耦合器另一端的一个端口连接至所述第二光纤耦合器的一端的其中一个端口，另一个端口连接至所述第二光纤耦合器的另一端的其中一个端口，组成一个环形光路。通过光功率计读数计算激光器接收的回返光功率，可以直观且准确的计算半导体激光器的耐回返光阈值。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 半导体激光器 回返 能力 测试 系统 方法 | ||
【主权项】：
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