[发明专利]一种便携式岩体结构面粗糙度轮廓测量仪及其测量方法在审
| 申请号： | 202011514550.7 | 申请日： | 2020-12-21 |
| 公开（公告）号： | CN112484605A | 公开（公告）日： | 2021-03-12 |
| 发明（设计）人： | 李克钢;秦庆词;李明亮;刘博;岳睿;李博文;杜时贵 | 申请（专利权）人： | 昆明理工大学 |
| 主分类号： | G01B5/20 | 分类号： | G01B5/20;G01B5/28 |
| 代理公司： | 昆明明润知识产权代理事务所(普通合伙) 53215 | 代理人： | 马海红 |
| 地址： | 650093 云*** | 国省代码： | 云南;53 |
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| 摘要： | 本发明涉及一种便携式岩体结构面粗糙度轮廓测量仪及其测量方法，属于岩土工程领域。采用触点传递装置，将壁面迹线起伏状态转换为可测指标(迹线伸长率lt和起伏幅度RY)，利用密集触点传递结构面起伏状态，实现结构面起伏迹线的起伏角、伸长率和起伏幅度的快速测量，从而可进行岩体结构面粗糙度系数JRC直接估算。本发明测量方法简单，易操作，可重复性强，且实现迹线面自动复位，便于多次测量，无需进行后期轮廓面迹线长度计算与分析，大大提高结构面起伏状态指标数据的采集效率。适用于各类大型岩体结构面起伏形态指标的测量与分析，特别是岩质边坡的稳定性分析与岩体抗剪强度特性的研究，抗干扰能力强，测量方法简便、快捷，普适性更强。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 便携式 结构 粗糙 轮廓 测量仪 及其 测量方法 | ||
【主权项】：
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