[发明专利]提高合束参数检测精度的标校光路和标校方法在审
| 申请号： | 202011467030.5 | 申请日： | 2020-12-14 |
| 公开（公告）号： | CN112284531A | 公开（公告）日： | 2021-01-29 |
| 发明（设计）人： | 刘丽娜;安振杰;孙亮;刘英智 | 申请（专利权）人： | 核工业理化工程研究院 |
| 主分类号： | G01J1/42 | 分类号： | G01J1/42;G01J1/02;G01J1/04 |
| 代理公司： | 天津市宗欣专利商标代理有限公司 12103 | 代理人： | 马倩 |
| 地址： | 300180 *** | 国省代码： | 天津;12 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种提高合束参数检测精度的标校光路和标校方法，标校光路包括合束装置和主导光镜，主导光镜的漏光光路上设置监视分光镜，监视分光镜的两路发射光路上分别设置检测分光镜和合束观测装置；所述检测分光镜的发射光路上分别设置指向检测装置和位置检测装置；标校方法包括（Ⅰ）激光束的精准合束；（Ⅱ）基准激光束的参数调整；（Ⅲ）基准激光束的信息采集；（Ⅳ）其余激光束的参数调整；（Ⅴ）数据更新；（Ⅵ）重启控制系统等步骤。本发明标校光路可以进行合束参数检测影响因素分析研究，实现理论研究和试验结果的相互验证，光路调节方便，可操作性强；标校方法简单直接，可大大提高合束参数检测的精度和准确性。 | ||
| 搜索关键词： | 提高 参数 检测 精度 标校光路 校方 | ||
【主权项】：
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