[发明专利]测量仪器、量具以及用于制造量具的方法在审
| 申请号： | 202011456532.8 | 申请日： | 2020-12-11 |
| 公开（公告）号： | CN112985525A | 公开（公告）日： | 2021-06-18 |
| 发明（设计）人： | 石桥一典 | 申请（专利权）人： | 富士通电子零件有限公司 |
| 主分类号： | G01F1/58 | 分类号： | G01F1/58;G01F1/66 |
| 代理公司： | 中国贸促会专利商标事务所有限公司 11038 | 代理人： | 张劲松 |
| 地址： | 日本*** | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： | 本发明公开了测量仪器、量具以及用于制造量具的方法。测量仪器包括：多个第一读取器，所述多个第一读取器从具有颜色图案的量具光学地读取多个图案，所述颜色图案包括在长度方向上以规则的间隔布置的所述多个图案，所述多个第一读取器在所述长度方向上以所述规则的间隔布置；转换器，所述转换器将由所述多个第一读取器读取的所述多个图案转换成N进制数(N为3或更大)的值；以及计算器，所述计算器基于定义所述N进制数的值与所述量具的刻度值之间的关系的数据来计算所述量具的刻度值。 | ||
| 搜索关键词： | 测量 仪器 量具 以及 用于 制造 方法 | ||
【主权项】：
暂无信息
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