[发明专利]一种全自动芯片老化测试及PCB屏蔽测试上料机在审
| 申请号： | 202011388920.7 | 申请日： | 2020-12-01 |
| 公开（公告）号： | CN112478755A | 公开（公告）日： | 2021-03-12 |
| 发明（设计）人： | 周光杰;余振涛 | 申请（专利权）人： | 群沃电子科技（苏州）有限公司 |
| 主分类号： | B65G47/90 | 分类号： | B65G47/90;B65G47/74 |
| 代理公司： | 北京方圆嘉禾知识产权代理有限公司 11385 | 代理人： | 王月松 |
| 地址： | 215000 江苏省苏州*** | 国省代码： | 江苏;32 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本发明涉及一种全自动芯片老化测试及PCB屏蔽测试上料机。所述上料机，包括：控制器、器件抓取机构、器件自动上料机和器件测试盘自动上料机；所述器件抓取机构与所述控制器连接，所述器件自动上料机用于将存放有待测试器件的料盘传送至器件取料区，所述器件测试盘自动上料机用于将空的器件测试盘传送至器件放置区，所述控制器用于控制所述器件抓取机构将所述器件取料区内的待测试器件抓取到所述器件放置区内的所述器件测试盘内。本发明解决了人工将器件放入器件测试盘内的操作，为全自动芯片老化测试及PCB屏蔽测试流水线奠定了基础，提高工作效率。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 全自动 芯片 老化 测试 pcb 屏蔽 上料机 | ||
【主权项】：
暂无信息
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于群沃电子科技（苏州）有限公司，未经群沃电子科技（苏州）有限公司许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/202011388920.7/，转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇：建筑用遮阳产品能效性能的评估方法、系统以及存储介质
- 下一篇：增程器
