[发明专利]一种测量涂层孔隙率模型的建立方法及该模型的使用方法在审
| 申请号： | 202011363183.5 | 申请日： | 2020-11-27 |
| 公开（公告）号： | CN112630120A | 公开（公告）日： | 2021-04-09 |
| 发明（设计）人： | 冯伟;张树潇;欧宇浩;郭师峰;吕高龙 | 申请（专利权）人： | 中国科学院深圳先进技术研究院 |
| 主分类号： | G01N15/08 | 分类号： | G01N15/08;G01N29/07;G01N29/44;G01N23/2251 |
| 代理公司： | 深圳智趣知识产权代理事务所(普通合伙) 44486 | 代理人： | 王策 |
| 地址： | 518055 广东省深圳*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本发明提供了一种测量涂层孔隙率模型的建立方法及该模型的使用方法，其中测量涂层孔隙率模型根据SEM照片原位建模原理构建，较其他方法更接近涂层中孔隙的实际形貌，孔隙率不同的模型孔隙形貌基本保持一致，且遵循了控制单一变量的原则，使得孔隙率仅随纵波声速变化，研究结果更具针对性、严密性和说服力。测量涂层孔隙率模型的使用方法为通过对涂层的超声反射回波信号幅度谱进行分析，得到不同孔隙率下的涂层纵波声速变化率，进而根据关系模型，确定涂层的孔隙率。本发明测量过程对涂层无损，且测量误差小。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 测量 涂层 孔隙率 模型 建立 方法 使用方法 | ||
【主权项】：
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