[发明专利]一种用于测试冲击电流传感器下垂率的装置及方法在审

专利信息
申请号: 202011279180.3 申请日: 2020-11-16
公开(公告)号: CN112526426A 公开(公告)日: 2021-03-19
发明(设计)人: 李文婷;龙兆芝;徐雁;刘少波;范佳威;胡康敏;雷民;周峰;余也凤;李明 申请(专利权)人: 中国电力科学研究院有限公司;中国电力科学研究院有限公司武汉分院;华中科技大学;国家电网有限公司
主分类号: G01R35/00 分类号: G01R35/00
代理公司: 北京工信联合知识产权代理有限公司 11266 代理人: 夏德政
地址: 100192 北*** 国省代码: 北京;11
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摘要: 发明公开了一种用于测试冲击电流传感器下垂率的装置及方法,属于传感器测试技术领域。本发明装置包括:可编程功率源,将脉冲电流信号传输至被测冲击电流传感器和标准冲击电流传感器;标准冲击电流传感器,与接入脉冲电流信号的被测冲击电流传感器生成闭合电流回路;示波器,根据测量值获取被测电流传感器的下垂率。本发明解决了目前冲击大电流传感器在低频指标测量方面的缺失的问题,且不需大功率且宽频率范围可调的正弦波电流源,利用可编程脉冲功率源及常规设备,就可实现冲击大电流传感器的低频性能指标的测量。
搜索关键词: 一种 用于 测试 冲击 电流传感器 下垂 装置 方法
【主权项】:
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