[发明专利]一种结构分离试验测量采集装置有效
| 申请号： | 202011223764.9 | 申请日： | 2020-11-05 |
| 公开（公告）号： | CN112284712B | 公开（公告）日： | 2022-12-27 |
| 发明（设计）人： | 吴龙飞;肖传清;潘浚铭;涂俊;吴远峰 | 申请（专利权）人： | 上海航天精密机械研究所 |
| 主分类号： | G01M13/00 | 分类号： | G01M13/00;G01M1/10 |
| 代理公司： | 上海段和段律师事务所 31334 | 代理人： | 李佳俊;郭国中 |
| 地址： | 201600*** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： | 本发明提供了一种结构分离试验测量采集装置，包括上位机、转换盒、分离启动触发信号电缆以及多个采集单元，上位机与转换盒通信连接；各采集单元分别通过连接转换盒上的对应接口后与上位机通信；转换盒通过分离启动触发信号电缆连接分离执行控制台。其应用场景主要是在结构分离试验中在结构件分离前及分离后采集分离启动触发信号并记录其时间点,并在结构件分离的过程中测量并记录被分离结构的其角度、角速度、角加速度、位移加速度等惯性参数。本发明所述的一种结构分离试验测量采集装置可用于结构分离试验等应用场景，填补国内缺少相关高性能结构分离试验测量采集装置的空白。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 结构 分离 试验 测量 采集 装置 | ||
【主权项】：
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