[发明专利]一种非接触式晶片支撑装置在审
申请号: | 202011065641.7 | 申请日: | 2020-09-30 |
公开(公告)号: | CN112201610A | 公开(公告)日: | 2021-01-08 |
发明(设计)人: | 胡璐 | 申请(专利权)人: | 南京华易泰电子科技有限公司 |
主分类号: | H01L21/683 | 分类号: | H01L21/683 |
代理公司: | 北京盛凡智荣知识产权代理有限公司 11616 | 代理人: | 屠佳婕 |
地址: | 210032 江苏省南*** | 国省代码: | 江苏;32 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | 本发明公开了一种非接触式晶片支撑装置,包括第二构件,所述第二构件为中空的圆锥形结构,且所述第二构件的上表面直径大于下表面直径,所述第二构件内容纳有第一构件,所述第一构件为圆锥形结构,且所述第一构件的上表面直径大于下表面直径,所述第一构件的外表面与第二构件的内壁具有间隙,第二构件的内表面与第一构件留以预定间隙容纳,本发明用以不接触晶片的方式支撑的同时使在晶片的表面上形成的压力分布的不均匀最小化,根据本发明的非接触晶片支撑装置控制空气的注入压力和吸入压力,这样,可以在没有直接接触的情况下支撑晶片,并且还可以防止晶片脱离,因此,可以使在半导体制造过程中对晶片的损坏最小化。 | ||
搜索关键词: | 一种 接触 晶片 支撑 装置 | ||
【主权项】:
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
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H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
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