[发明专利]一种大尺寸SAR天线多径效应分析方法有效
申请号: | 202011057782.4 | 申请日: | 2020-09-29 |
公开(公告)号: | CN112859117B | 公开(公告)日: | 2022-07-29 |
发明(设计)人: | 张玉廷;杨小勇;董亚凯;周怀安;李冉;陈大羽;唐治华;李堃 | 申请(专利权)人: | 北京空间飞行器总体设计部 |
主分类号: | G01S19/22 | 分类号: | G01S19/22 |
代理公司: | 北京理工大学专利中心 11120 | 代理人: | 田亚琪 |
地址: | 100094 *** | 国省代码: | 北京;11 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | 本发明公开了一种大尺寸SAR天线多径效应分析方法,该方法包括三部分:卫星分析模型建立、多径干扰定位分析和多径干扰参数分析;本发明方法一方面可对产生多径效应的位置进行定位,便于卫星系统进行针对性设计改进;另一方面,可对多径效应的具体参数进行分析,实现对多径干扰对卫星系统影响程度的评估;本发明方法可在卫星方案设计阶段即可对多径效应进行分析评估,避免后期试验过程中发现干扰整改费效比高的问题。 | ||
搜索关键词: | 一种 尺寸 sar 天线 效应 分析 方法 | ||
【主权项】:
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