[发明专利]一种阻变式存储器及其制造方法有效

专利信息
申请号: 202011046368.3 申请日: 2020-09-29
公开(公告)号: CN111933796B 公开(公告)日: 2020-12-18
发明(设计)人: 肖韩;黄如 申请(专利权)人: 杭州未名信科科技有限公司;浙江省北大信息技术高等研究院
主分类号: H01L45/00 分类号: H01L45/00
代理公司: 北京辰权知识产权代理有限公司 11619 代理人: 刘广达
地址: 311200 浙江省杭州市萧*** 国省代码: 浙江;33
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摘要: 发明公开了一种阻变式存储器及其制造方法,所述存储器包括:衬底(1)、离子注入区(2)、栅极氧化物层(3)、栅极(4)、硅化物块(5)、金属引线(6)、阻变单元(7)、硅化阻止层(8);其中,硅化阻止层(8)位于硅化物块(5)及栅极氧化物层(3)之间,并覆盖离子注入区(2)的至少一部分及栅极(4)。本发明通过在晶体管的S/D区域引入硅化阻止层,能重构高压电场在晶体管的分布,降低了场效应管的有效源漏电压,从而在保证栅长的前提下,提高了MOSFET的耐压能力。
搜索关键词: 一种 阻变式 存储器 及其 制造 方法
【主权项】:
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