[发明专利]自适应延时补偿串行ADC采样系统采样校准方法有效
| 申请号： | 202011044795.8 | 申请日： | 2020-09-28 |
| 公开（公告）号： | CN112260689B | 公开（公告）日： | 2023-10-13 |
| 发明（设计）人： | 张艳如;张晓波;孙亮;陈能;王胜喜 | 申请（专利权）人： | 西南电子技术研究所(中国电子科技集团公司第十研究所) |
| 主分类号： | H03M1/12 | 分类号： | H03M1/12 |
| 代理公司： | 成都九鼎天元知识产权代理有限公司 51214 | 代理人： | 刘小彬 |
| 地址： | 610036 四川*** | 国省代码： | 四川;51 |
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| 摘要： | 本发明公开的一种自适应延时补偿串行ADC采样系统采样校准方法，旨在提供一种时序压力小，校准可靠的采样率校准方法。本发明通过下述技术方案实现：ADC芯片通过模数AD多通道串行接口连接FPGA与时钟分电路组并联组成采样率系统；信号源通过ADC模数转换芯片配置的多通道串行数据传送到FPGA运行时延参数补偿算法，将高速串化数据转换为并行数据，时钟分电路通过时钟源CLK按需改变采样频率，利用串化因子调节差分时钟IDELAY的延时；将时延参数置入FPGA中，对齐通道内数据和时钟；AD芯片配置相关寄存器退出测试序列，输出真实采样数据和模数AD测试序列，完成校准过程，实现串行ADC采样系统输入延时的校准。 | ||
| 搜索关键词： | 自适应 延时 补偿 串行 adc 采样系统 采样 校准 方法 | ||
【主权项】：
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