[发明专利]环回测试的方法及装置有效
申请号: | 202011034527.8 | 申请日: | 2020-09-27 |
公开(公告)号: | CN112261673B | 公开(公告)日: | 2023-04-25 |
发明(设计)人: | 戴伟;胡翔龙;刘伟明;蒋颖波 | 申请(专利权)人: | 比科奇微电子(杭州)有限公司 |
主分类号: | H04W24/02 | 分类号: | H04W24/02;H04W24/08 |
代理公司: | 北京康信知识产权代理有限责任公司 11240 | 代理人: | 董文倩 |
地址: | 310051 浙江省杭州市滨*** | 国省代码: | 浙江;33 |
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摘要: | 本发明公开了一种环回测试的方法及装置。其中,上述方法应用于无线链路层控制协议RLC实体,上述RLC实体包括:RLC发送端和RLC接收端,上述方法包括:上述RLC发送端接收来自于上层的数据信息;上述RLC发送端将上述数据信息转发至上述RLC接收端,并经由上述RLC接收端发送至上述上层,以对上述RLC实体进行环回测试。本发明解决了现有技术中针对RLC实体的测试程序比较复杂,浪费时间成本和人力成本的技术问题。 | ||
搜索关键词: | 测试 方法 装置 | ||
【主权项】:
暂无信息
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