[发明专利]嵌入式设备测试方法、装置及电子设备在审
| 申请号： | 202011012214.2 | 申请日： | 2020-09-23 |
| 公开（公告）号： | CN112241366A | 公开（公告）日： | 2021-01-19 |
| 发明（设计）人： | 廖志强 | 申请（专利权）人： | 厦门亿联网络技术股份有限公司 |
| 主分类号： | G06F11/36 | 分类号： | G06F11/36;G06F9/50 |
| 代理公司： | 广州三环专利商标代理有限公司 44202 | 代理人： | 陈旭红;吕金金 |
| 地址： | 361009 福建省厦门*** | 国省代码： | 福建;35 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种嵌入式设备测试方法、装置及电子设备，对目标程序进行插桩；获取插桩后的目标程序运行过程中内存分配与函数调用数据；将内存分配与函数调用数据通过网络发送至服务器，以使所述服务器根据所述内存分配与函数调用数据分析目标程序的内存泄露情况。使用本发明的嵌入式设备测试方法，相较于现有技术，进行嵌入式设备内存泄露测试时，无需在嵌入式设备上保存大量内存分配与函数调用数据，同时也不需要调用嵌入式设备的CPU资源进行内存泄露分析，降低了嵌入式设备的内存消耗和CPU消耗。 | ||
| 搜索关键词： | 嵌入式 设备 测试 方法 装置 电子设备 | ||
【主权项】：
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