[发明专利]一种不依赖器件工艺参数的重离子单粒子翻转率分析方法在审
| 申请号： | 202010982709.1 | 申请日： | 2020-09-17 |
| 公开（公告）号： | CN112257226A | 公开（公告）日： | 2021-01-22 |
| 发明（设计）人： | 李衍存;汪路元;蔡震波;张庆祥;向宏文;秦珊珊;郑玉展;张志平 | 申请（专利权）人： | 北京空间飞行器总体设计部 |
| 主分类号： | G06F30/20 | 分类号： | G06F30/20 |
| 代理公司： | 中国航天科技专利中心 11009 | 代理人： | 程何 |
| 地址： | 100094 *** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 一种不依赖器件工艺参数的重离子单粒子翻转率分析方法，属于空间辐射技术领域。本发明通过获取器件重离子单粒子翻转截面试验数据及拟合结果；建立器件单粒子翻转率分析模型；计算器件所处轨道的重离子LET谱；分析器件在轨单粒子翻转率。本发明的方法仅采用器件重离子单粒子翻转试验数据，就可以构建确定的单粒子翻转率分析模型，并进行单粒子翻转率分析，解决了以往单粒子模型参数依赖器件工艺参数、难以确定、无法形成统一标准的问题。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 不依赖 器件 工艺 参数 离子 粒子 翻转 分析 方法 | ||
【主权项】：
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