[发明专利]硅基片上傅里叶变换光谱仪及光谱重构方法有效

专利信息
申请号: 202010753010.8 申请日: 2020-07-30
公开(公告)号: CN111947780B 公开(公告)日: 2022-12-06
发明(设计)人: 陆梁军;杜俊杰;周林杰;陈建平;刘娇 申请(专利权)人: 上海交通大学
主分类号: G01J3/28 分类号: G01J3/28
代理公司: 上海恒慧知识产权代理事务所(特殊普通合伙) 31317 代理人: 张宁展
地址: 200240 *** 国省代码: 上海;31
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摘要: 一种硅基片上傅里叶变换光谱仪及获得光源重构光谱的方法,所述的光谱仪包括波导输入耦合器、级联光开关、非等臂亚波长光栅(SWG)波导对和锗硅探测器,所述的级联光开关通过非等臂SWG波导对连接。通过调节光开关状态选通光路,构成具有不同光程差的一系列非等臂马赫‑增德尔干涉器(MZI)阵列,实现基于空间外差相干的傅里叶变换光谱仪,并利用压缩感知算法对光谱进行重构。相比于传统无源MZI阵列结构,可以有效降低芯片尺寸、提高采样点数;非等臂SWG波导对可以有效提高芯片温度稳定性、扩大工作带宽。本发明能够满足傅里叶变换光谱仪对于小型化、便携化的应用需求,并能够解决现有硅基片上光谱仪普遍对温度敏感的问题。
搜索关键词: 硅基片上 傅里叶变换 光谱仪 光谱 方法
【主权项】:
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