[发明专利]DRAM内存颗粒的测试方法及装置有效
| 申请号： | 202010740446.3 | 申请日： | 2020-07-28 |
| 公开（公告）号： | CN111951875B | 公开（公告）日： | 2023-07-21 |
| 发明（设计）人： | 陈晓良 | 申请（专利权）人： | 锐捷网络股份有限公司 |
| 主分类号： | G11C29/12 | 分类号： | G11C29/12;G11C29/08;G11C11/401 |
| 代理公司： | 暂无信息 | 代理人： | 暂无信息 |
| 地址： | 350002 福建省福州市仓*** | 国省代码： | 福建;35 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种DRAM内存颗粒的测试方法及装置，该方法包括：获取所述交互单元接收到的所述待测试DRAM内存颗粒的固有参数和设定参数；基于所述固有参数、所述设定参数和预设的初始工作时序确定所述待测试DRAM内存颗粒的选定工作时序集合；在所述选定工作时序集合中的每个选定工作时序下分别调用所述待测试DRAM内存颗粒执行预定测试项、调用所述电压采集单元获取所述待测试DRAM内存颗粒的当前电压后调用所述电压调节单元基于所述当前电压和电压范围调节所述待测试DRAM内存颗粒的工作电压；基于在每个选定工作时序下的测试结果确定所述待测试DRAM内存颗粒是否正常。该方案大大降低了整个测试设备的测试成本。 | ||
| 搜索关键词： | dram 内存 颗粒 测试 方法 装置 | ||
【主权项】：
暂无信息
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