[发明专利]一种芯片测试设备在审
| 申请号： | 202010723485.2 | 申请日： | 2020-07-24 |
| 公开（公告）号： | CN111965519A | 公开（公告）日： | 2020-11-20 |
| 发明（设计）人： | 魏秀强;彭琪;黄思琪;宋克江;闫大鹏 | 申请（专利权）人： | 武汉锐科光纤激光技术股份有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/28 | 分类号： | G01R31/28;G01R1/04 |
| 代理公司： | 北京路浩知识产权代理有限公司 11002 | 代理人： | 吕伟盼 |
| 地址： | 430000 湖北省*** | 国省代码： | 湖北;42 |
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| 摘要： | 本发明实施例涉及芯片测试技术领域，提供一种芯片测试设备。该芯片测试设备包括分别安装于测试台架上的取料机构、测试定位机构、加电机构、注水机构和测试机构；取料机构位于测试定位机构的一侧，用以将取得的芯片放至测试定位机构上并在测试完成之后取走芯片；加电机构位于测试定位机构的另一侧，用以给测试定位机构上的芯片进行加电；注水机构与测试定位机构相连，用以对位于测试定位机构上的芯片进行散热降温；测试机构包括积分球，积分球的入光口靠近测试定位机构上的芯片的出光端。本发明实施例提供的芯片测试设备，提高了芯片的测试效率，一定程度上减少了出现芯片过热而导致报废的情况。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 芯片 测试 设备 | ||
【主权项】：
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