[发明专利]校准分析测量设备的方法和校准分析测量设备的测量点有效
| 申请号： | 202010721166.8 | 申请日： | 2020-07-24 |
| 公开（公告）号： | CN112305034B | 公开（公告）日： | 2023-07-14 |
| 发明（设计）人： | 托尔斯滕·佩希施泰因;迈克尔·汉克;达格玛拉·卡舒巴;埃里克·亨宁斯;托马斯·普福希;斯特凡·尤格特;延斯·费特曼 | 申请（专利权）人： | 恩德莱斯和豪瑟尔分析仪表两合公司 |
| 主分类号： | G01N27/30 | 分类号： | G01N27/30;G01N27/333;G01N27/416;G01N27/42;G01N27/48;G01N27/06 |
| 代理公司： | 中原信达知识产权代理有限责任公司 11219 | 代理人： | 穆森;戚传江 |
| 地址： | 德国*** | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： | 本发明涉及校准分析测量设备的方法和校准分析测量设备的测量点。方法包括：关闭出口阀使得过程介质无法通过出口阀排放到排放口；关闭入口阀使得额外的过程介质无法从第一入口进给到测量点中并且预定量的过程介质位于测量点中；将预定量的校准介质从第二入口通过入口阀进给到测量点中；通过泵来循环校准介质使得产生流动回路并且校准介质流向分析测量设备。通过泵来设定校准介质的预定流速；通过分析测量设备来检测第一测量值用于校准；至少一次重复：将预定量的校准介质进给到测量点中、通过泵循环校准介质、检测另一测量值以校准分析测量设备；评估第一测量值和后续测量值，并基于第一测量值和后续测量值的评估来执行对分析测量设备的校准。 | ||
| 搜索关键词： | 校准 分析 测量 设备 方法 | ||
【主权项】：
暂无信息
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