[发明专利]一种基于深度学习的SAR智能参数化超分辨成像方法有效

专利信息
申请号: 202010694576.8 申请日: 2020-07-17
公开(公告)号: CN111948652B 公开(公告)日: 2023-05-05
发明(设计)人: 曾涛;王岩;丁泽刚;卫扬铠;龙腾 申请(专利权)人: 北京理工大学
主分类号: G01S13/90 分类号: G01S13/90;G01S7/41
代理公司: 北京理工大学专利中心 11120 代理人: 李微微
地址: 100081 *** 国省代码: 北京;11
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摘要: 发明公开了一种基于深度学习的SAR智能参数化超分辨成像方法,首先,基于属性散射中心模型,本技术在传统仅包含点原子的SAR回波模型中额外引入线原子和面原子,构建SAR混合观测模型。随后,基于SAR混合观测模型和传统交替方向乘子法ADMM,本技术通过设置不同的非线性阈值函数,构建了多成分ADMM算法来估计点、线和面原子的参数。最后,通过将MC‑ADMM映射成神经网络,即将MC‑ADMM的每一次迭代过程映射成一层神经网络结构,成功构建MCADMM‑Net,快速高效的获取高智能SAR超分辨图像。本发明旨在提供一种高智能、高精度、高效率的SAR超分辨成像解决方案,预期可应用于机载、星载SAR成像等领域,可大幅增强SAR图像质量,有助于提升SAR图像的可理解性。
搜索关键词: 一种 基于 深度 学习 sar 智能 参数 分辨 成像 方法
【主权项】:
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