[发明专利]测定装置、测定装置的调整方法及计算机存储介质在审
| 申请号： | 202010693205.8 | 申请日： | 2020-07-17 |
| 公开（公告）号： | CN112240863A | 公开（公告）日： | 2021-01-19 |
| 发明（设计）人： | 鹤冈泰明;辻智悠;立谷洋大;木西基;益田祐次 | 申请（专利权）人： | 希森美康株式会社 |
| 主分类号： | G01N15/14 | 分类号： | G01N15/14 |
| 代理公司： | 北京市安伦律师事务所 11339 | 代理人： | 杨永波 |
| 地址： | 日本兵库县神户市*** | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： | 为了轻松进行用于检测来自试样的荧光的装置的调整，本发明提供了一种测定装置（100），其具备：流动室（10），供含粒子的试样流动；光源（20），向在流动室（10）流动的试样照射光；荧光检测器（30），检测从被光源（20）照射了光的试样产生的荧光；控制部（40），使含荧光染料的阳性对照试样流向流动室（10），通过荧光检测器（30）测定从被光源（20）照射了光的阳性对照试样产生的荧光，比较获得的测定值与标准值，根据比较结果调整荧光检测器（30）的检测灵敏度。 | ||
| 搜索关键词： | 测定 装置 调整 方法 计算机 存储 介质 | ||
【主权项】：
暂无信息
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