[发明专利]一种模组的缺陷检测方法及系统有效

专利信息
申请号: 202010691327.3 申请日: 2020-07-17
公开(公告)号: CN111735823B 公开(公告)日: 2020-11-24
发明(设计)人: 程果;余鑫 申请(专利权)人: 武汉精立电子技术有限公司;武汉精测电子集团股份有限公司
主分类号: G01N21/94 分类号: G01N21/94;G01N21/958
代理公司: 武汉东喻专利代理事务所(普通合伙) 42224 代理人: 方可
地址: 430205 湖北省武*** 国省代码: 湖北;42
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摘要: 发明公开了一种模组的缺陷检测方法及系统,其通过点亮待检测模组使其显示预设的灰阶画面,开启模组检测设备的侧光源以获取第一检测画面,通过第一检测画面中的发暗缺陷实现盖板玻璃内的异物缺陷的检测,在背光和侧光的共同作用下,通过L128和Particle画面结合,来针对盖板下异物和盖板上异物进行准确的分类,从而有利于后续的缺陷判别与输出。
搜索关键词: 一种 模组 缺陷 检测 方法 系统
【主权项】:
暂无信息
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