[发明专利]连续晶体伽马探测器的三维位置刻度方法、装置及设备有效

专利信息
申请号: 202010586856.7 申请日: 2020-06-24
公开(公告)号: CN111736203B 公开(公告)日: 2021-07-23
发明(设计)人: 范鹏;夏彦;杨晓宁;马天予;刘亚强 申请(专利权)人: 北京卫星环境工程研究所
主分类号: G01T1/202 分类号: G01T1/202
代理公司: 北京志霖恒远知识产权代理事务所(普通合伙) 11435 代理人: 成丹
地址: 100094 *** 国省代码: 北京;11
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摘要: 发明公开了一种连续晶体伽马探测器的三维位置刻度方法、装置及设备,该方法包括:采集非准直源照射条件下每个伽马事件的探测器输出信号;基于非准直源照射条件,确定伽马事件在探测器内的真实三维作用位置分布;根据每个伽马事件的探测器输出信号,对所有伽马事件进行初始分区;根据所有伽马事件的分区结果,确定对应每个分区的伽马事件的初始探测器输出响应;根据当前探测器输出响应及伽马事件在探测器内的三维作用位置分布,构建用于优化探测器输出响应的代价函数;对代价函数进行极小值迭代优化求解,更新每个三维位置分区的探测器输出响应,完成探测器的三维位置刻度。该方法简化了三维位置刻度流程,提高了位置刻度的精确性。
搜索关键词: 连续 晶体 探测器 三维 位置 刻度 方法 装置 设备
【主权项】:
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