[发明专利]超导器件测试探杆在审
| 申请号： | 202010533473.3 | 申请日： | 2020-06-12 |
| 公开（公告）号： | CN111856370A | 公开（公告）日： | 2020-10-30 |
| 发明（设计）人： | 钟青;王雪深;李劲劲;蔡裕谦;徐达;张明宇;钟源;曹文会 | 申请（专利权）人： | 中国计量科学研究院 |
| 主分类号： | G01R35/00 | 分类号： | G01R35/00;G01R33/035;G05D23/30 |
| 代理公司： | 北京华进京联知识产权代理有限公司 11606 | 代理人： | 马云超 |
| 地址： | 100029 *** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本申请提供了一种超导器件测试探杆，包括：测试杆本体、导热样品台以及温度测控模组。所述测试杆本体具有一个测试端。所述导热样品台与所述测试端固定连接。所述温度测控模组固定于所述导热样品台。所述温度测控模组用于测量并控制所述导热样品台的温度。本申请将所述导热样品台固定于所述测试杆本体的测试端，并将所述温度测控模组固定于所述导热样品台，利用所述导热样品台的良好导热性能，使得所述温度测控模组通过测量并控制所述导热样品台的温度，实现对待测超导器件的精确控温，从而保障了所述待测超导器件的测试效果。 | ||
| 搜索关键词： | 超导 器件 测试 探杆 | ||
【主权项】：
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