[发明专利]用于检测杂散磁场的方法、装置和系统在审
| 申请号： | 202010497612.1 | 申请日： | 2020-06-03 |
| 公开（公告）号： | CN112033274A | 公开（公告）日： | 2020-12-04 |
| 发明（设计）人： | 弗雷德·欣茨;詹森·奇尔科特 | 申请（专利权）人： | 霍尼韦尔国际公司 |
| 主分类号： | G01B7/02 | 分类号： | G01B7/02;G01R33/09 |
| 代理公司： | 中国专利代理(香港)有限公司 72001 | 代理人： | 蒋骏;陈岚 |
| 地址： | 美国新*** | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： | 本发明提供了用于检测杂散磁场的方法、装置和系统。示例性装置可包括第一磁性传感器元件、第二磁性传感器元件和处理器元件，该第一磁性传感器元件位于相对于磁场源的第一位置处，以检测由该磁场源发射的目标磁场；该第二磁性传感器元件位于相对于该磁场源的第二位置处，以检测由该磁场源发射的该目标磁场；该处理器元件电耦接到第一磁性传感器元件和第二磁性传感器元件。在一些示例中，该处理器元件可被配置为：接收来自第一磁性传感器元件的第一输出，接收来自第二磁性传感器元件的第二输出，并且至少部分地基于该第一输出和该第二输出来检测干扰目标磁场的杂散磁场。 | ||
| 搜索关键词： | 用于 检测 磁场 方法 装置 系统 | ||
【主权项】：
暂无信息
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