[发明专利]一种基于核密度估计的贴片LED瑕疵标注方法有效
| 申请号： | 202010480388.5 | 申请日： | 2020-05-30 |
| 公开（公告）号： | CN111724352B | 公开（公告）日： | 2022-11-15 |
| 发明（设计）人： | 董延超;宁少淳;冀玲玲;王浩天 | 申请（专利权）人： | 同济大学 |
| 主分类号： | G06T7/00 | 分类号： | G06T7/00;G06T5/00;G06V10/764;G06V10/774;G06V10/30 |
| 代理公司： | 上海科盛知识产权代理有限公司 31225 | 代理人： | 应小波 |
| 地址： | 200092 *** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： | 本发明涉及一种基于核密度估计的贴片LED瑕疵标注方法，包括：步骤1：获得贴片LED图像；步骤2：建立基于核密度估计的分类器模型；步骤3：使用分类器模型对图像进行分类，判断图像是否为瑕疵类图像，若是，则执行步骤4，否则，将图像直接输出为非瑕疵类图像；步骤4：分别对瑕疵类图像中的瑕疵类像素点和非瑕疵类像素点进行标注；步骤5：对标注后的图像进行去噪处理，获得经过精细化标注的瑕疵类图像。与现有技术相比，本发明具有复杂度低、处理速度快、标注更加精细、实用性强等优点。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 基于 密度 估计 led 瑕疵 标注 方法 | ||
【主权项】：
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