[发明专利]一种可实现不同极性半导体激光器测试的装置与测试方法在审

专利信息
申请号: 202010461279.9 申请日: 2020-05-27
公开(公告)号: CN113805024A 公开(公告)日: 2021-12-17
发明(设计)人: 梁盼;李彬亭;刘琦 申请(专利权)人: 山东华光光电子股份有限公司
主分类号: G01R31/26 分类号: G01R31/26;G01R1/04;G01R1/067;G01R1/073;H01R13/629
代理公司: 济南金迪知识产权代理有限公司 37219 代理人: 王楠
地址: 250101 山东省济*** 国省代码: 山东;37
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摘要: 一种可实现不同极性半导体激光器测试的装置与测试方法,属于半导体激光器封装测试技术领域,装置包括导向插座、探针插座、支撑底座;导向插座沿轴向设有导向孔,导向孔底部设有测试柱;探针插座贯穿设有金属化通孔,金属化通孔内设有球形伸缩探针,测试柱底部设有球形凹槽,球形凹槽与球形伸缩探针相互配合;支撑底座贯穿设有支撑底座插针,支撑底座上方伸出的支撑底座插针插入探针插座的金属化通孔中;导向插座通过定位销钉与探针插座连接。测试装置安装至测试机台后,可以通过导向插座的旋转完成导向插座内测试柱电极性的改变,从而实现同一测试机台可测试不同极性的产品,避免了测试座的频繁更换,大大提高了测试机台的兼容性和生产效率。
搜索关键词: 一种 实现 不同 极性 半导体激光器 测试 装置 方法
【主权项】:
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