[发明专利]电阻测试电路及电阻测试方法在审
| 申请号： | 202010434821.1 | 申请日： | 2020-05-21 |
| 公开（公告）号： | CN113702710A | 公开（公告）日： | 2021-11-26 |
| 发明（设计）人： | 周健 | 申请（专利权）人： | 圣邦微电子（北京）股份有限公司 |
| 主分类号： | G01R27/14 | 分类号： | G01R27/14;G01R1/30 |
| 代理公司： | 北京成创同维知识产权代理有限公司 11449 | 代理人： | 蔡纯;张靖琳 |
| 地址： | 100089 北京市海淀*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本发明涉及电阻测量技术领域，提供了一种电阻测试电路及电阻测试方法，该电阻测试电路包括：分压模块，包括串联于供电端与地之间的电流源、标准电阻和待测电阻；第一测试模块，根据标准电阻两端的电压生成第一测试电压；第二测试模块，根据待测电阻两端的电压生成第二测试电压；第三测试模块，其输入端分别连接第一测试模块的输出端和第二测试模块的输出端，根据该第一测试电压和该第二测试电压生成第三测试电压，其中，所述电阻测试电路根据该标准电阻的阻值、该第一测试电压和该第三测试电压获得被测电阻的阻值。由此可以提高电阻测试电路的测试精度以及满足可靠性要求。 | ||
| 搜索关键词： | 电阻 测试 电路 方法 | ||
【主权项】：
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