[发明专利]一种基于XPS技术表征有机质成熟度的方法在审
申请号: | 202010218442.9 | 申请日: | 2020-03-25 |
公开(公告)号: | CN111487275A | 公开(公告)日: | 2020-08-04 |
发明(设计)人: | 周清亮 | 申请(专利权)人: | 长沙红十岩科技有限公司 |
主分类号: | G01N23/2273 | 分类号: | G01N23/2273;G01N23/2202 |
代理公司: | 暂无信息 | 代理人: | 暂无信息 |
地址: | 湖南省长沙市望城区黄金*** | 国省代码: | 湖南;43 |
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摘要: | 本发明针对现有技术存在的不足提供一种基于XPS技术表征有机质成熟度的方法,实现对有机质成熟度表征。通过对XPS分析的C1s的sp3(脂族碳)和sp2(芳族碳)信号进行拟合,将该方法用于测量芳族碳含量的相对数量。本发明是一种通过不进行干酪根分离的直接XPS测量来估算页岩岩石成熟度的方法。这种直接表征程序的优点是耗时少,省力并且不会实质性地改变样品,将其保存用于其他分析。 | ||
搜索关键词: | 一种 基于 xps 技术 表征 有机质 成熟度 方法 | ||
【主权项】:
暂无信息
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