[发明专利]伪距粗差的探测方法、装置及可读存储介质

摘要

本公开涉及粗差探测的技术领域，公开了一种伪距粗差的探测方法，包括以下步骤：获取前一历元k0的定位数据Ok0及后一历元k1的观测数据Ok1；确定卫星i作为参考星，确定卫星j作为非参考星；根据所述定位数据Ok0及所述观测数据Ok1，进行卫星i、卫星j的星间求差处理以及历元k0、历元k1的历元间求差处理，得到检验量F；通过假设检验方法判断检验量F是否通过假设检验；当不通过假设检验时，进行粗差标记。本公开的一些技术效果在于：直接采用获取前一历元k0有效的定位数据Ok0与后一历元k1的观测数据Ok1进行相应的作差处理而得到检验量F，方法简便、且消耗的计算资源较少；同时使检验量F具有高斯白噪声的特征，易于执行假设检验方法。