[发明专利]一种时钟发生电路和测试机在审

专利信息
申请号: 202010197421.3 申请日: 2020-03-19
公开(公告)号: CN111257738A 公开(公告)日: 2020-06-09
发明(设计)人: 梁建;罗雄科 申请(专利权)人: 上海泽丰半导体科技有限公司
主分类号: G01R31/28 分类号: G01R31/28;G06F1/04
代理公司: 上海硕力知识产权代理事务所(普通合伙) 31251 代理人: 郭桂峰
地址: 200233 上海市徐*** 国省代码: 上海;31
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摘要: 发明提供了一种时钟发生电路和测试机,其电路包括:低频时钟信号输入模块,用于接入测试机产生的低频时钟信号;时钟信号转换模块,用于将所述低频时钟信号转换为预设高频时钟信号;高频时钟信号输出模块,用于将所述预设高频时钟信号提供给待测晶圆,以便所述测试机对所述待测晶圆进行测试。本发明根据需要提供符合待测晶圆的时钟信号,满足芯片测试需求。
搜索关键词: 一种 时钟 发生 电路 测试
【主权项】:
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