[发明专利]X射线胶路测量装置和方法有效
| 申请号： | 202010142554.0 | 申请日： | 2020-03-04 |
| 公开（公告）号： | CN111322970B | 公开（公告）日： | 2021-07-13 |
| 发明（设计）人： | 李亮;陈志强;张丽 | 申请（专利权）人： | 清华大学 |
| 主分类号： | G01B15/00 | 分类号： | G01B15/00;G01B15/02;G01N23/04 |
| 代理公司： | 北京鸿元知识产权代理有限公司 11327 | 代理人： | 李玉琦;曹素云 |
| 地址： | 100084 北京市海淀区北京*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种X射线胶路测量装置和方法，其中，装置包括：图像获取装置，用于获取待检测有胶物体的第一X射线图像；图像处理模块，比对所述第一X射线图像与无胶物体的第二X射线图像，获得所述待检测有胶物体中胶路的第三X射线图像；胶路测量模块，根据所述第三X射线图像测量得到所述待检测有胶物体中的胶路信息。本发明能够实现高灵敏度、快速、准确的胶路成像在线检测，可以用于电子产品生产线的在线实时快速检测，并适用于所有电子产品的胶路检测。 | ||
| 搜索关键词： | 射线 测量 装置 方法 | ||
【主权项】：
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