[发明专利]GaN高温功能试验系统在审
| 申请号： | 202010135602.3 | 申请日： | 2020-03-02 |
| 公开（公告）号： | CN111157871A | 公开（公告）日： | 2020-05-15 |
| 发明（设计）人： | 胡久恒 | 申请（专利权）人： | 杭州高坤电子科技有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/26 | 分类号： | G01R31/26;G01R1/02;G01R1/04 |
| 代理公司： | 暂无信息 | 代理人： | 暂无信息 |
| 地址： | 311122 浙江省杭州*** | 国省代码： | 浙江;33 |
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| 摘要： | 本发明公开了GaN高温功能试验系统，属于试验设备技术领域，包括柜体，柜体底部四个角的位置设置柜脚，其特征在于：柜体中部设置操作台，操作台上方设置工业控制计算机，工业控制计算机上方横向并排设置开始按钮、停止按钮，工业控制计算机两侧均设置烘箱，烘箱下方设置电源，烘箱的数量为4个，工业控制计算机两侧分别纵向设置2个烘箱，同侧烘箱之间设置测试柜，操作台下方设置接线柜，本发明很好地解决了现有高温功能试验系统不能做不同温度下的参数试验的问题，对器件可靠性的检测也更加精确，同时，灵活性显著提升，实现了对不同器件或者参数的检测，有效地节约了成本。 | ||
| 搜索关键词： | gan 高温 功能 试验 系统 | ||
【主权项】：
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