[发明专利]X射线管和X射线分析系统在审
| 申请号： | 202010087016.6 | 申请日： | 2020-02-11 |
| 公开（公告）号： | CN111564350A | 公开（公告）日： | 2020-08-21 |
| 发明（设计）人： | 哈利·伯克霍夫;彼得罗内拉·埃米伦蒂安娜·赫格曼;格特·范道森 | 申请（专利权）人： | 马尔文帕纳科公司 |
| 主分类号： | H01J35/08 | 分类号： | H01J35/08;H01J35/18;G01N23/20;G01N23/223 |
| 代理公司： | 北京安信方达知识产权代理有限公司 11262 | 代理人： | 张少波;杨明钊 |
| 地址： | 荷兰阿*** | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： | 本申请公开了X射线管和X射线分析系统。根据本发明的X射线管包括阳极和阴极，阴极包括用于发射电子束的发射部分。发射部分被配置成用电子照射阳极的目标表面以使阳极发射X射线。窗口被布置在X射线管的端部处，以允许X射线离开X射线管。阳极的目标表面以相对于纵轴的斜角倾斜，其中纵轴穿过X射线管的端部。 | ||
| 搜索关键词： | 射线 分析 系统 | ||
【主权项】：
暂无信息
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