[发明专利]用于光学卫星指向测量系统的空间基准标定方法及装置有效

专利信息
申请号: 202010055581.4 申请日: 2020-01-17
公开(公告)号: CN111174811B 公开(公告)日: 2021-01-15
发明(设计)人: 吕金虎;范城城;张明;武春风;朱国梁;刘克新 申请(专利权)人: 北京航空航天大学;北斗导航位置服务(北京)有限公司;航天科工微电子系统研究院有限公司
主分类号: G01C25/00 分类号: G01C25/00
代理公司: 北京路浩知识产权代理有限公司 11002 代理人: 马瑞
地址: 100191*** 国省代码: 北京;11
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摘要: 发明实施例提供一种用于光学卫星指向测量系统的空间基准标定方法及装置,包括:通过相对指向测量子系统的相对输出量,对绝对指向测量子系统的绝对输出量进行重采样,得到采样频率归一化指向参数,以用于获取绝对指向测量子系统的内部空间基准转换时序参数;根据任一空间基准绝对指向参数序列参数和相对输出量,获取绝对指向测量子系统和相对指向测量子系统之间的空间基准转换时序参数;根据绝对指向内部空间基准转换时序参数,以及绝对指向测量子系统和相对指向测量子系统之间的空间基准转换时序参数,构建时空基准转换模型,以对指向测量系统进行空间基准标定。本发明实施例为高分辨率光学卫星的高效、高质量成像以及后续在轨应用奠定基础。
搜索关键词: 用于 光学 卫星 指向 测量 系统 空间 基准 标定 方法 装置
【主权项】:
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