[发明专利]识别划片槽掩模版图中标记图形的方法和计算机设备有效
申请号: | 202010016856.3 | 申请日: | 2020-01-08 |
公开(公告)号: | CN111222300B | 公开(公告)日: | 2023-08-22 |
发明(设计)人: | 张兴洲;张燕荣 | 申请(专利权)人: | 上海华虹宏力半导体制造有限公司 |
主分类号: | G06F30/398 | 分类号: | G06F30/398 |
代理公司: | 上海浦一知识产权代理有限公司 31211 | 代理人: | 戴广志 |
地址: | 201203 上海市浦东*** | 国省代码: | 上海;31 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | 本发明涉及集成电路制造技术领域,具体涉及一种识别划片槽掩模版图中标记图形的方法和计算机设备。识别划片槽掩模版图中标记图形的方法,包括:获取预定标记图形的预定特征点;预测预定标记图形的预定边界框;获取与预定标记图形对应的实际标记图形;提取实际特征点;根据实际特征点预测实际标记图形的实际边界框;确定实际边界框与经过矩阵变换后的预定边界框是否一致;当边界框一致时,确定实际特征点与经过矩阵变换后的预定特征点是一致;当特征点一致时,确定实际标记图形正确。通过边界框粗比对和逐个特征点精比对相结合的手段,能够很大程度上减小工作量,提高识别的效率。 | ||
搜索关键词: | 识别 划片 模版 标记 图形 方法 计算机 设备 | ||
【主权项】:
暂无信息
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于上海华虹宏力半导体制造有限公司,未经上海华虹宏力半导体制造有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/202010016856.3/,转载请声明来源钻瓜专利网。