[发明专利]荧光X射线分析装置有效
| 申请号： | 201980052429.6 | 申请日： | 2019-06-06 |
| 公开（公告）号： | CN112534248B | 公开（公告）日： | 2021-11-19 |
| 发明（设计）人： | 山田康治郎;原真也;松尾尚 | 申请（专利权）人： | 株式会社理学 |
| 主分类号： | G01N23/223 | 分类号： | G01N23/223;G01N23/2209 |
| 代理公司： | 北京三幸商标专利事务所(普通合伙) 11216 | 代理人： | 刘卓然 |
| 地址： | 日本*** | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： | 本发明的荧光X射线分析装置根据多路波高分析器(13)所输出的微分曲线、与针对作为一次射线的分析射线的规定的分析波高宽度和狭于该分析波高宽度的规定的狭小波高宽度，同时地获得作为二次X射线(7)的强度相对于联动机构(10)的扫描角度(20)的分布的分析波高宽度曲线和狭小波高宽度曲线。接着，针对分析波高宽度曲线以及狭小波高宽度曲线，进行分析射线的鉴定，在于分析波高宽度曲线中鉴定的分析射线中追加仅在狭小波高宽度曲线中鉴定的分析射线，形成分析射线的鉴定结果。 | ||
| 搜索关键词： | 荧光 射线 分析 装置 | ||
【主权项】：
暂无信息
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