[实用新型]光电探测单元、光电探测结构及光电探测器有效

专利信息
申请号: 201922034397.7 申请日: 2019-11-20
公开(公告)号: CN211017104U 公开(公告)日: 2020-07-14
发明(设计)人: 臧凯;李爽;张超 申请(专利权)人: 深圳市灵明光子科技有限公司
主分类号: H01L31/10 分类号: H01L31/10;H01L27/144
代理公司: 广州华进联合专利商标代理有限公司 44224 代理人: 汪洁丽
地址: 518051 广东省深圳市南山区西丽*** 国省代码: 广东;44
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摘要: 本申请涉及光电探测单元、光电探测结构及光电探测器,其中,光电探测单元包括第一基底;第一结构,具有第一掺杂类型,形成于第一基底的正面上;第二结构,具有第二掺杂类型,形成于第一结构内,第一结构具有包围第二结构底面和侧面的底壁和侧壁;第一光处理层,具有凹凸结构,形成于第二结构的上表面;重掺杂区,具有第一掺杂类型,形成于侧壁内,重掺杂区的掺杂浓度大于侧壁的掺杂浓度;第一电极,与重掺杂区电连接;第二电极,与第二结构电连接。在本申请中,第一结构和第二结构形成光探测层,在光探测层上形成第一光处理层,通过第一光处理层对入射光线进行多次反射以增加光程,提高光探测层的光吸收效率。
搜索关键词: 光电 探测 单元 结构 探测器
【主权项】:
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