[实用新型]半导体元件有效
申请号: | 201920982076.7 | 申请日: | 2019-06-27 |
公开(公告)号: | CN209880578U | 公开(公告)日: | 2019-12-31 |
发明(设计)人: | 詹益旺;童宇诚;黄永泰;林淯慈;夏勇 | 申请(专利权)人: | 福建省晋华集成电路有限公司 |
主分类号: | H01L21/8234 | 分类号: | H01L21/8234;H01L27/088;H01L27/11521;H01L27/11568 |
代理公司: | 31211 上海浦一知识产权代理有限公司 | 代理人: | 郭四华 |
地址: | 362200 福建省泉州*** | 国省代码: | 福建;35 |
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摘要: | 本实用新型公开了一种半导体元件,包括:包括多个有源区的半导体衬底,第一凹槽形成在有源区中并延伸到两侧的浅沟槽隔离中;各位线包括由底部导电材料层和顶部导电材料层形成的叠加结构;在第一凹槽中形成有由底部导电材料层组成的第一接触插塞,第一接触插塞的两侧面由位线的两侧面向下延伸而成;在第一接触插塞的第一侧的第一凹槽中形成有第一子凹槽,在第一子凹槽的底部的有源区中分别形成有第三子凹槽,第三子凹槽的底部表面低于有源区的顶部表面。本实用新型公开了一种半导体元件的制造方法。本实用新型能防止位线接触插塞的导电材料层刻蚀不干净所产生的漏电,提高产品的良率。 | ||
搜索关键词: | 导电材料层 子凹槽 源区 本实用新型 接触插塞 半导体元件 两侧面 浅沟槽隔离 凹槽形成 底部表面 叠加结构 顶部表面 位线接触 向下延伸 漏电 插塞 衬底 刻蚀 良率 位线 半导体 延伸 制造 | ||
【主权项】:
1.一种半导体元件,其特征在于,包括:/n半导体衬底,包括多个有源区,在所述有源区之间设置有浅沟槽隔离;/n第一凹槽形成在所述有源区中并延伸到两侧的所述浅沟槽隔离中;/n各位线包括由底部导电材料层和顶部导电材料层形成的叠加结构;/n在所述第一凹槽中形成有由底部导电材料层组成的第一接触插塞,所述第一接触插塞的顶部连接到所述位线;所述第一接触插塞的底部表面接触所述有源区的顶部表面,所述有源区的顶部表面的宽度大于所述第一接触插塞的底部表面的宽度;所述第一接触插塞的所述底部导电材料层和所述位线的所述底部导电材料层为同一层,所述第一接触插塞的两侧面由所述位线的两侧面向下延伸而成;/n在所述第一接触插塞的第一侧的所述第一凹槽中形成有第一子凹槽,在所述第一子凹槽的底部的所述有源区中形成有第三子凹槽,所述第三子凹槽的底部表面低于所述有源区的顶部表面。/n
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造