[发明专利]一种MOX芯块均匀性检的检测方法在审
| 申请号： | 201911343031.6 | 申请日： | 2019-12-24 |
| 公开（公告）号： | CN113030126A | 公开（公告）日： | 2021-06-25 |
| 发明（设计）人： | 彭传洋;袁毓文;屠振华;郭亮;李强 | 申请（专利权）人： | 中核四0四有限公司 |
| 主分类号： | G01N23/00 | 分类号： | G01N23/00 |
| 代理公司： | 核工业专利中心 11007 | 代理人： | 任超 |
| 地址： | 732850 *** | 国省代码： | 甘肃;62 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 提供一种MOX芯块均匀性的检测方法，利用MOX芯块放在IP板上进行辐照成像，通过图像和像素亮度值表征MOX芯块的均匀性,为MOX芯块的成功制备以及入堆安全运行提供保障。此方法操作便捷，可适用于MOX芯块的大批量检测；相较于传统的照相法，成像更为清晰，并且可以利用图像的像素亮度来辅助判定MOX芯块的均匀性，对MOX芯块的微观均匀性的表征具有很重要的意义。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 mox 均匀 检测 方法 | ||
【主权项】：
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